薄膜晶体管液晶显示器相位调制特性的测试  

Measurement of Phase Modulation Properties of TFT-LCD

作　　者：田爱玲[1] 周建忠[1] 王红军[1] 刘丙才[1] 

机构地区：[1]西安工业大学光电工程学院,陕西西安710032

出　　处：《中国科技信息》2008年第22期12-12,共1页China Science and Technology Information

基　　金：陕西省教育厅产业化项目（05JC17）;陕西省教育厅科研计划项目（03JK170）;陕西省薄膜技术与光电检测重点实验室基金项目（2SKJ200406）.

摘　　要：采用双光束干涉测量装置，对SONY公司的LCX023CMT的薄膜晶体管液晶显示器（TFT-LCD）进行了测试利用计算机对得到的干涉条纹图像进行滤波、二值化、条纹细化和二值图像的滤波等一系列处理。计算出干涉条纹因LCD相位调制而移动的相位把参考灰度分别为255和0时测得的数据做了比较并取平均值绘制出LCD相位调制特性曲线。通过定性的分析，该方法能够在一定程度减少系统误差和随机误差在相移干涉测量中。用LCD代替PZT相移器能大大简化光路系统，同时避免机械运动。实现相移量的全数字化控制。

关 键 词：薄膜晶体管液晶显示器 相位调制特性 测试 双光束干涉 SONY公司 全数字化控制 随机误差 光路系统 

分 类 号：TN873.93[电子电信—信息与通信工程] TN949.192