导电聚吡咯对阴离子深度分布的XPS研究  

XPS Study of Depth Distribution of Anion in Conducting Polypyrrole

作　　者：郭可珍[1] 李永舫[1] 潘承璜[1] 钱人元[1] 

机构地区：[1]中国科学院化学研究所

出　　处：《化学学报》1990年第1期92-94,共3页Acta Chimica Sinica

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：导电聚吡咯是在电化学聚合过程中聚吡咯部分转移电子给电极,然后嵌入对离子的产物.现有的实验事实证明,在导电聚吡咯的厚度方向对阴离子的浓度分布非常均匀,这些实验结果是从横截面的电子探针法取得,但对100 A 以内表面层中对阴离子浓度的分布是否均匀是不清楚的.本工作试图用X射线光电子能谱的电子起飞角依赖性来得到在几十 A 表面层内的对阴离子浓度分布.The depth distribution of NO_3^- in the thin layer of 50(?) thick below the surface of PPy(NO_3) has been studied on the basis of the dependence of XPS with electron flying angles. The results show that the anion concentration on the sturface is much lower than that in the body.

关 键 词：聚吡咯 对阴离子分布 XPS法 

分 类 号：O633.5[理学—高分子化学]