梅特勒-托利多推出两项最新研发成果  

Mettler Toledo presents the XP56 Microbalance and X-ray detecting system

出　　处：《中国食品工业》2008年第11期10-10,共1页China Food Industry

摘　　要：日前，梅特勒．托利多公司正式启动了一个新技术——XP56微量天平的定量称量技术。

关 键 词：研发 梅 称量技术 微量天平 

分 类 号：TH715.115[机械工程—测试计量技术及仪器]