基于局部梯度特征的红外微扫描成像技术研究  

Infrared Microscanning Imaging Technique Based on Locally Gradient Feature

作　　者：白俊奇[1] 陈钱[1] 

机构地区：[1]南京理工大学电子工程与光电技术学院,南京210094

出　　处：《光子学报》2008年第11期2253-2256,共4页Acta Photonica Sinica

基　　金：国防预研基金(40405050303)资助

摘　　要：从空间邻近度和像素相似性角度出发,提出了微扫描和基于梯度特征加权插值技术相结合的方法.该方法利用320×240凝视型红外焦平面探测器,在DSP+FPGA硬件平台上得以实现.实验证明:与经典微扫描技术相比,它既能提高图像空间分辨率,抑制噪音,又能较好地增强红外图像的边缘.Based on spatial contiguity and pixel comparability, a method was proposed which combined microscanning with weighted interpolation technique. It runon the DSP＋FPGA platform by using 320× 240 IRFPA detector. Experiment indicates： compared with classical microscanning, it can improve the imaging spatial resolution, eliminate noise fussy, and enhance edge of infrared image better.

关 键 词：红外焦平面阵列 微扫描 空间分辨率 插值重建 

分 类 号：TN911.73[电子电信—通信与信息系统]