原子力显微镜在材料研究中的应用  

Application of Atomic Force Microscope in Material Research

作　　者：杨英歌[1] 周海[1] 卢一民[1] 

机构地区：[1]北京石油化工学院材料科学与工程系,北京102617

出　　处：《纳米科技》2008年第5期68-71,共4页

摘　　要：简述原子力显微镜的工作原理及特点，以实例介绍其在材料研究中的应用，指出原子力显微镜在材料的研究过程中有广阔的应用前景。The principle and character of Atomic Force Microscope is reviewed, and the application of Atomic force microscope is introduced by example. Great superiority and potential of application in field of material is showed.

关 键 词：原子力显微镜 表面形貌 粉体材料 纳米材料 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程]