接触式干涉仪示值误差检定及滤光片校准  

在线阅读下载全文

作  者:李梅 

机构地区:[1]山西省计量监督检定测试所

出  处:《中国计量》2008年第12期76-78,共3页China Metrology

摘  要:接触式干涉仪是应用光波干涉原理,对微小位移进行测量的精密仪器。采用比较法,即将被测量与标准量相比较从而测得其差值的方法,其可用于检定长度不大于150mm的量块和其他工件的精密测量。仪器读数窗中刻度尺刻度范围为±50分度,刻度尺的分度值(可调)推荐采用的为0.05μm、0.1μm、0.21μm三种。

关 键 词:接触式干涉仪 误差检定 滤光片 校准 示值 精密测量 精密仪器 刻度尺 

分 类 号:TH744.3[机械工程—光学工程]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象