多光谱成像  

作　　者：高 

出　　处：《红外》2008年第12期4-4,共1页Infrared

摘　　要：对于某些应用来说，现有的成像系统并不是最佳的。例如，为了准确地测定一个物体（例如处于空间中的一个物体）的一种或多种材料特性，现有的系统可能会提供太多或者太少的图像信息。如果图像信息不足，就不可能准确地测定材料的特性，而如果信息过多，则又需要花费大量图像处理资源和处理时间。还有，虽然高光谱成像系统也可以用来测定材料特性，但是高光谱成像系统的数据获取和分析是复杂的，而且是费时的。

关 键 词：多光谱成像 成像系统 材料特性 图像信息 图像处理 数据获取 高光谱 测定 

分 类 号：O433[机械工程—光学工程]