改进的故障分辨率计算公式和序替代方法  

Improvement of Fault Resolution Equation and Serial Replacement Method

作　　者：杨成林[1] 田书林[1] 龙兵[1] 

机构地区：[1]电子科技大学自动化工程学院,成都610054

出　　处：《电子测量与仪器学报》2008年第6期26-32,共7页Journal of Electronic Measurement and Instrumentation

基　　金：国防基础研究项目(A1420061264);国家自然科学基金(60772145);教育部博士点基金(20070614018);电子科技大学青年基金重点项目资助

摘　　要：故障分辨率是复杂电子系统的一个重要测试性指标,传统的计算故障分辨率的公式只适用于系统中所有元件(或模块)都服从指数分布的情况。事实上,正态分布、威布尔分布和指数分布都是常用的失效分布。鉴于此,本文提出了一个适用于各种失效分布的故障分辨率计算公式;然后在充分利用各模块历史维护数据和分布函数的基础上提出了一种优化替代次序的方法。理论分析和仿真结果证明本文的方法有如下现实价值:节省设计和生产成本;减少系统维护预算;降低系统维修时间和费用。Fault resolution is an important testability specification of complex electronic system. Traditional fault resolution equation is effective only when all components （or modules） fall into exponential distribution. In fact, normal distribution, Weibull distribution and exponential distribution are all used commonly. So, firstly we propose a new fault resolution equation that is applied to all kinds of failure distributions. Then, based on the maintenance history and failure distribution of each module, a method for optimizing replacement order is suggested in this paper. Theoretical analysis and simulation result prove that the proposed method has several advantages： saving design and manufacture cost; reducing budget of system maintenance; saving system maintenance time and cost.

关 键 词：故障分辨率 可测试性 块替代 序列替代 

分 类 号：TP206.3[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]