激光测长机CMOS数码影像测量系统的研制  

作　　者：林庆 苏正浩 

出　　处：《东方电机》2008年第6期37-42,共6页

摘　　要：本文总结了在我公司20m激光测长机上创造性地应用CMOS器件对π尺等线纹类计量器具进行精密检测的测量系统研制情况。该系统具有数据实时采集、软件功能强、精度高等特点,文中重点对该系统创新点和关键技术进行了分析。

关 键 词：激光测长机 COMS 数字图像处理 线纹测量 

分 类 号：TB9[一般工业技术—计量学] TN386.1[机械工程—测试计量技术及仪器]