CuPc薄膜及其厚度对太阳电池性能的影响  

Effect of Thickness on Copper Phthalocyanine Film Prepared with Vacuum Evaporation

作　　者：张瑜[1] 史伟民[1] 郑耀明[1] 王林军[1] 朱文清[1] 夏义本[1] 

机构地区：[1]上海大学材料科学与工程学院,上海200072

出　　处：《上海大学学报（自然科学版）》2008年第6期642-645,共4页Journal of Shanghai University:Natural Science Edition

基　　金：上海市科委基金资助项目(03DZ12033);AM基金资助项目(06SA08);上海市重点学科建设资助项目(T0101)

摘　　要：酞菁铜是一种重要的有机光电半导体材料,其优异的稳定性和良好的光电性能,越来越受到人们的重视.对真空蒸发法制备的酞菁铜薄膜进行了XRD、Raman光谱、紫外-可见光谱,以研究该薄膜的结构及光学性能,并对肖特基型太阳电池ITO/CuPc/Al进行研究,通过改变CuPc的厚度,讨论其对该太阳电池电学性能的影响.Copper phthalocyanine （CuPc） is an important versatile organic material, attracting increasingly more attention because of its unusual stability and photoelectric properties. Copper phthalocyanine （CuPc） films, grown by vacuum sublimation, were characterized with X-ray diffraction （XRD）, Raman and ultra-violet visible spectrometry. Copper phthalocyanine （CuPc）/Aluminum （Al） Schottky solar cells were also studied by changing the thickness of the CuPc layer.

关 键 词：酞菁铜(CuPc) 有机材料 太阳能电池 真空热蒸发法 

分 类 号：TN304[电子电信—物理电子学]