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作 者:朱正平[1] 陈锟[1] 周健勇[1] 蓝加平[1] 李宁丽[1]
机构地区:[1]中南民族大学电子信息工程学院,武汉430074
出 处:《中南民族大学学报(自然科学版)》2008年第4期70-72,共3页Journal of South-Central University for Nationalities:Natural Science Edition
基 金:国家自然科学基金资助项目(40774089)
摘 要:指出了通过测量电离层反射回波的相位随频率的变化可以提高电离层虚高测量精度,分析了利用电离层回波相位进行虚高测量的基本原理以及利用电离层垂直探测中组合脉冲回波进行相位测量的实现方法,对电离层虚高进行了一系列测量实验.实验结果表明:基于回波相位的电离层虚高测量方法与回波时延测量方法相比,其虚高测量精度高10倍以上,这对精确反演电离层电子浓度剖面及电离层扰动精细结构研究有重要意义.The measurement precision of ionospheric virtual height can be increased by measuring the variation of ionospheric echo's phase with scan frequency. This paper introduces the basic principle of ionospheric virtual height measurement based on ionospheric echo's phase and the basic measurement method of combined pulse echo' s phase, and does a series of experiments of ionospheric virtual height measurement. The experimental results show that the measurement precision of ionospheric virtual height is ten times higher by means of echo's phase method than time of arrival method. This is very important in accurate ionospheric electronic density profile inversion and ionospheric subtle structure research.
分 类 号:P353[天文地球—空间物理学]
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