检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:王永瑞[1,2,3] 刘震云[1,2,3] 戎咏华[1,2,3] 赵小林 张寿柏
机构地区:[1]上海交通大学材料科学系 [2]粉末冶金国家工程中心中南工业大学 [3]国家教委薄膜及微细加工开放实验室上海交通大学
出 处:《电子显微学报》1998年第1期3-4,共2页Journal of Chinese Electron Microscopy Society
摘 要:介绍研究薄膜结构的新方法—能量过滤电子衍射法。该方法借助透射电镜样品后扫描,使薄膜的选区电子衍射花样顺序地扫过电子能量损失谱仪入口光阑,检测弹性散射电子强度与散射矢量关系,然后由径向分布函数理论,导出薄膜材料的最近邻原子间距和配位数等与结构有关的信息。通过多晶金薄膜和非晶钛铝薄膜的测试,获得满意结果。
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