GeO2纳米线的原位热氧化法制备与发光性质  

作　　者：陈晓波[1] 杨合情[1] 张瑞刚[1] 杨瑞丽[2] 董红星[1] 尹文艳[1] 宋玉哲[1] 陈迪春[3] 

机构地区：[1]陕西师范大学化学与材料科学学院大分子科学陕西省重点实验室,西安710062 [2]咸阳师范学院化学系,咸阳712000 [3]西安理工大学现代材料分析与测试中心,西安710048

出　　处：《中国科学（E辑）》2008年第1期24-35,共12页Science in China(Series E)

基　　金：国家自然科学基金(批准号:20573072);教育部博士点基金(编号:20060718010)资助项目

摘　　要：以Au作催化剂通过金属锗与纯氧在600～800℃的氧化反应，在单质锗表面原位大面积生长出了GeO2纳米线．采用X射线衍射仪、扫描电镜和透射电镜对产物进行了表征分析．结果表明，GeO2纳米线为六方相单晶结构，其直径在65～600nm范围内，长度达50gm．研究了反应温度和喷金时间对纳米线直径的影响，提出了可能的生长机理．实现了不同直径GeO2纳米线的可控合成．发现发光峰位于355nm强的紫外光发光和发光峰位于400nm和485nm弱的蓝光发光，这两种发光可能分别起源于GeO2纳米线中氧空位与间隙氧之间的跃迁和氧空位中的电子与锗．氧空穴中心的空穴复合．

关 键 词：GeO2纳米线 原位热氧化法 光致发光 紫外光发射 

分 类 号：TB383.1[一般工业技术—材料科学与工程]