检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]中国电子科技集团公司第二十七研究所,郑州450015
出 处:《电光系统》2008年第4期53-56,共4页Electronic and Electro-optical Systems
摘 要:可靠性是电子设备的重要属性,可靠性试验技术是可靠性工程中的一个重要环节,可靠性外场评估试验是一些大型系统和设备定型设计中仅能采用的可靠性鉴定方法。文章介绍了电子系统和设备的可靠性参数与指标、外场可靠性试验的评估模型、可靠性数据的处理和解释,最后提出了有关电子系统外场可靠性评估的建议。Reliability is an important property of electronic systems and reliability test is an important process in reliability engineering. The outfield reliability evaluation is the only method of the reliability evaluation for some large systems. This paper specifies the reliability parameters, the evaluation model of the outfield reliability test, the processing and explanation of reliability data and provides the recommendation on the reliabitity evaluation of electronic systems in field test.
关 键 词:电子系统和设备 可靠性鉴定与验收试验 外场试验评估 点估计值 置信区间 泊松分布 Chi-Square分布
分 类 号:TP202.1[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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