多因素干扰作用下微控器抗扰特性的正交试验研究  

作　　者：蔡建国[1] 向怡 瞿志海[1] 蒋全兴 

机构地区：[1]武汉职业技术学院机电学院 [2]湖北省家电维修行业管理办公室

出　　处：《电工技术》2009年第1期20-22,共3页Electric Engineering

基　　金：2006年度湖北省教育厅科研项目<快速脉冲群对微控器的干扰特性研究>(项目编号:D200650002)阶段性研究成果

摘　　要：以正交试验的理论为基础,通过对被干扰设备进行试验测量获得大量的数据,然后用正交试验法分析快速瞬变脉冲群对微控器的干扰特性。该方法开辟了电磁兼容性研究领域的一个新途径。

关 键 词：多因素 微控器 抗扰特性 正交试验 

分 类 号：TM933.4[电气工程—电力电子与电力传动] TQ461[化学工程—制药化工]