面向功能的测试矢量生成技术的探讨  

作　　者：郑菊言 

机构地区：[1]中国航空工业总公司第615研究所

出　　处：《航空电子技术》1998年第1期35-38,共4页Avionics Technology

摘　　要：综述了数字系统测试生成技术中结构测试和功能测试两种方法的优缺点；用实例分析了门级固定故障模型存在的问题；展望了ＶＬＳＩ和ＡＳＩＣ面向功能测试生成方法的发展新趋势。

关 键 词：结构测试 面向功能测试 测试矢量 数字系统 

分 类 号：TN790.7[电子电信—电路与系统]