各向异性聚合物薄膜参数的测量与计算  

Measurement and Calculation of Anisotropic Polymer Film Parameters

作　　者：王志刚[1] 任诠[1] 郭士义[2] 牟晓东 张光辉 许东[2] 

机构地区：[1]山东大学光学系,晶体材料国家重点实验室 [2]山东大学晶体材料研究所,晶体材料国家重点实验室

出　　处：《光学学报》1998年第4期486-490,共5页Acta Optica Sinica

基　　金：国家自然科学基金;山东省自然科学基金

摘　　要：讨论了用单侧漏模法测量薄膜共振漏模的耦合角、计算漏模的有效折射率并由相应的模方程来确定各向异性聚合物薄膜折射率ｎ０、ｎｅ及厚度ｄ的方法。对ＰＴ－ＰＥＫ－ｃ（酞酸铅－聚醚醚酮）膜，测量与计算结果为：ｎｏ＝１．６５２５±０．００１４，ｎｅ＝１．６４３９±０．００１９，ｄ＝２．３３±０．３２μｍ。The one side leaky wave technique is discussed for determination of the refractive indices n o , n e  and thickness d of the anisotropic polymer thin film through the measurement of the coupling angles corresponding to leaky modes, and the calculation of their effective indices and solving the corresponding mode equations. The results of measurement and calculation for PT PEK c film are: n o =1.6525±0.0014, n e = 1.6439 ±0.0019, d=2.33±0.32 μm.

关 键 词：单侧漏模法 各向异性 聚合物 薄膜 膜参数 

分 类 号：O484.5[理学—固体物理]