基于Verigy93000的高速数字集成电路测试  

High Speed Digital Integrated Circuit Testing base on Verigy93000

作　　者：李军求[1] 吴京燕[2] 

机构地区：[1]桂林电子科技大学电子工程学院 [2]中国电子技术标准化研究所集成电路测试验证实验室

出　　处：《信息技术与标准化》2009年第1期61-64,共4页Information Technology & Standardization

基　　金：电子行业军用标准研究"高端通用芯片评测技术预先研究"(H07100604)

摘　　要：主要介绍了当前高速数字信号测试中的一些处理方法,依据这些处理方法,阐述了如何在Verigy93000机台上进行高速数字集成电路器件的测试。This paper mainly gives an introduction of current methods of dealing with high speed digital signal testing, according to these methods, explains how to test high speed digital integrated circuit base on Verigy93000.

关 键 词：高速数字信号 处理方法 Verigy93000 测试 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学] TN4