潜在电路分析的历史、现状与发展——潜在电路分析技术之二  

作　　者：任立明[1] 

机构地区：[1]航天可靠性与安全性研究中心

出　　处：《质量与可靠性》1998年第3期29-34,共6页Quality and Reliability

摘　　要：本文介绍潜在电路分析技术的历史发展和目前国际上研究及应用的状况,并对未来发展趋势进行了展望。

关 键 词：潜在电路分析 现状 航天工业 

分 类 号：V442[航空宇航科学与技术—飞行器设计]