基于微处理器的绝缘材料耐电压试验仪的设计  

Design of Materials Withstanding Voltage Tester Based on Microprocessor

作　　者：陈铭[1] 蒋存波[2] 

机构地区：[1]南昌理工学院计算机系,江西南昌330044 [2]桂林工学院电子与计算机系,广西桂林541004

出　　处：《工业控制计算机》2009年第2期75-77,共3页Industrial Control Computer

摘　　要：微处理器应用于绝缘材料电气强度试验仪器可提高其性能。电气强度试验过程存在强烈的高压放电干扰,利用CPLD和12位DA转换器构成同步跟踪计数型DA转换器,通过预置适当的初值并使用尽可能低频率的技术脉冲可以减小干扰的影响。Microprocessors used in electrical insulation material strength test equipment to improve its performance.Electric strength test has a strong high-pressure discharge interference,making use of CPLD and 12 DA converters to synchronous tracking count DA converters,through setting appropriate initial value and using as far as possible low-frequency pulse technology can reduce the impact of interference.

关 键 词：微处理器 耐电压测试 电气强度 C8051F020 

分 类 号：TM21[一般工业技术—材料科学与工程]