HT-7装置低杂波电流驱动逃逸电子行为分析  

Investigation on the generation of runaway electrons on the HT-7 tokamak with low hybrid current drive

作　　者：卢洪伟 胡立群 林士耀 HT-7实验组 

机构地区：[1]中国科学院等离子体物理研究所,合肥230031

出　　处：《核聚变与等离子体物理》2009年第1期33-38,共6页Nuclear Fusion and Plasma Physics

基　　金：国家自然科学基金项目(10675124);JSPS-CAS Core-University Program

摘　　要：用NaI闪烁体探测器组成的逃逸电子诊断系统和CdTe半导体探测阵列组成的快电子轫致辐射诊断系统,研究了一定等离子体密度条件下低杂波功率和等离子体电流对逃逸产生的影响以及一定低杂波功率下等离子体密度对逃逸电子产生的不同作用效果。根据实验数据计算了HT-7装置等离子体中电子逃逸的阈值电场和一定放电条件下电子逃逸的阈值能量。The runaway electron detection system composed of NaI detector is used to detect the hard x-ray emission which occurs when the runaway electrons impinge on the first wall and a tangentially arranged multi-channel CdTe detector array is adopted to measure the fast electron bremsstrahlung （FEB） emission on the HT-7 tokamak. And then the critical energy and critical electronic field of runaway electrons are calculated according to the experimental data.

关 键 词：低杂波电流驱动 电流密度 逃逸电子 

分 类 号：O536[理学—等离子体物理] O532[理学—物理]