光学经纬仪测微器隙动差检定的讨论  

作　　者：赵强 

机构地区：[1]武汉市计量测试检定所

出　　处：《计量技术》1990年第5期27-29,共3页Measurement Technique

摘　　要：现行光学经纬仪检定规程(JJG 414-86)对光学测微器隙动差规定了在水平度盘上每间隔15°整置仪器,共进行12个位置的检定。此检定只对“度”有要求,而对“分”、“秒”没有要求。显然。

关 键 词：经纬仪 测微器 隙动差 检定 光学 

分 类 号：TH761.106[机械工程—仪器科学与技术]