关于片式瓷介电容器检测分析  

作　　者：翁泽刚 

机构地区：[1]福建省电子产品监督检验所

出　　处：《中小企业管理与科技》2009年第3期240-241,共2页Management & Technology of SME

摘　　要：电子元器件在军用和民用的各个领域有着广泛的运用,其使用环境必然不尽相同,有时还存在很大差异,因此电子元器件的特性也会有所不同。本文以片式瓷介电容器对其在检测过程中所采用的国内外标准及一些常见失效作一整理分析。

关 键 词：多层片式瓷介电容器 国标 国军标 国外标准 失效分析 

分 类 号：TM534.1[电气工程—电器] TM535.1