经验式智能测量仪器的最佳折线拟合算法  

作　　者：晏家丰[1] 班成[1] 李云秀 

机构地区：[1]北京建工学院计算中心 [2]北京城建总公司科研所

出　　处：《计算机工程与应用》1990年第6期39-44,共6页Computer Engineering and Applications

摘　　要：随着半导体技术的发展,计算机芯片的价格越来越便宜,功能越来越强。为研制智能式测量仪器提供了物质基础。但另一方面,许多物理量之间的精确关系一时还不能完全确定,使计算机的应用遇到了困难。本文提供了一种分段拟合实验数据,形成系数矩阵,求得一条连续的拟合折线,并使其误差的平方和为最小的折线拟合算法。这一算法为研制经验式智能测量仪器或经验式智能控制器找到了一个更为一般化的方法。

关 键 词：智能测量仪器 折线拟合 算法 

分 类 号：TP216[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]