从高斯光束到帽顶光束Z扫描:分析测量灵敏度和可靠性  

From Gaussian Beams to Top-hat Beams Z-scan:Analysis of Sensitivity and Reliability

作　　者：左平[1] 顾兵[1] 谈苏庆[1] 黄晓琴[1] 

机构地区：[1]南京师范大学物理科学与技术学院,江苏省光电技术重点实验室,江苏南京210097

出　　处：《南京师大学报（自然科学版）》2009年第1期43-46,50,共5页Journal of Nanjing Normal University(Natural Science Edition)

基　　金：国家自然科学基金(10704042);江苏省高校自然科学研究基金(06KJB140057)资助项目

摘　　要：利用快速傅里叶变换方法分析了Z扫描归一化透过率曲线.研究了入射光束空间分布对Z扫描测量灵敏度和可靠性的影响.提出了截取高斯光束(即近帽顶光束)Z扫描表征技术,该技术不仅提高了测量灵敏度和可靠性,而且提高了光能量的利用率.The normalized transmittance of Z-scan traces, by using the fast Fourier Transform （FFT） method, was analyzed. The influence of the spatial profile beam of input laser on the sensitivity and reliability in Z-scan measurements was discussed in detail. The clip Gaussian beams （ i. e. , near top-hat beams） Z-scan technique, which improves the sensitivity, the reliability of measurements, and the efficiency in use of the input laser energy was presented.

关 键 词：Z扫描 灵敏度 可靠性 近帽顶光束 

分 类 号：TN241[电子电信—物理电子学]