检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]环境电磁特征国家重点实验室,上海200438 [2]上海大学,上海200444
出 处:《微波学报》2010年第S2期84-87,共4页Journal of Microwaves
摘 要:对近场扫描架三维SAR成像原理及处理技术进行了详细研究,该技术能够修正近场成像测量中天线方向图及距离因子等引入的误差,在近场测试区域内获取目标散射中心真实的三维散射强度分布图,仿真和实测成像数据均验证了该方法的正确性和可行性。This paper presents the theory and imaging algorithm of 3 -D imaging based on scanner.The technology can acquire the distribution of target's scattering intensity in near-field by eliminating the error of the Antenna pattern and range factor,and both simulating and measurement data prove its validity and feasibility.
分 类 号:TN958[电子电信—信号与信息处理]
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