全反射式高分辨率傅里叶成像光谱仪的研究  

Study on all-reflective Fourier transform imaging spectrometer with high resolution

作　　者：梁敏勇[1] 廖宁放[1] 杨萍[1] 冯洁[1] 罗永道[1] 

机构地区：[1]北京理工大学信息科学技术学院颜色科学与工程国家专业实验室,北京100081

出　　处：《光学技术》2007年第S1期86-88,共3页Optical Technique

基　　金：国家自然科学基金(60377042);国家863项目(2006AA12Z124)

摘　　要：提出了一种基于分波前干涉结构的全反射式高分辨率傅里叶变换成像光谱仪。其中前置望远系统及干涉成像系统都采用了反射式光学元件,反射表面镀金属反射膜,使系统可应用与很宽的光谱范围内。分析和讨论了光谱仪的工作原理及光学结构,设计了两种可行的光路结构图,并通过初步实验验证了系统的基本性能。We present an all-reflective Fourier transform imaging spectrometer(FTIS) with high resolution based on the principle of wavefront-splitting interference.The fore-optic configuration and the interference imaging system adopt reflective optical element,it has the noticeable advantages in larger spectral bandwidth.The basic principle of FTIS and optic system are introduced,two kinds of the optical configuration are presented,and the initial experimental result of FTIS is demonstrated.

关 键 词：成像光谱仪 傅里叶变换成像光谱仪 全反射 分波前 高分辨率 

分 类 号：TH744.1[机械工程—光学工程]