光谱分析、光谱测量  

出　　处：《中国光学》2001年第3期16-18,共3页Chinese Optics

摘　　要：O433.4 2001031604用透射光栅谱仪测量金箔背侧X射线能谱=Measurementof X-ray spectrum from the back ofa gold foil[刊,中]/杨家敏,丁耀南,孙可煦,成金秀,江少恩,郑志坚,张文海(中国工程物理研究院西南核物理与化学研究所.四川,绵阳(621900))∥物理学报.-2000,49(4).-747-750在星光激光装置上利用波长为0.35μm的激光辐照金箔靶。

关 键 词：光谱分析 金箔靶 透射光栅谱仪 物理学报 光纤光栅 物理研究 测量结果 化学研究所 核物理 四川 

分 类 号：O433[机械工程—光学工程]