Cu的束箔光谱测量  

作　　者：曾宪堂[1] 杜树斌[1] 李景文[1] 江历阳[1] 姚淑德[2,3] 赵迎春[2,3] 王友德[2,3] 马新文[2,3] 刘惠萍[2,3] 

机构地区：[1]中国原子能科学研究院核物理所 [2]北京大学技术物理系 [3]中国科学院近代物理研究所

出　　处：《原子与分子物理学报》1998年第S1期59-59,共1页Journal of Atomic and Molecular Physics

基　　金：国家自然科学基金;核科学基金;中国工程物理研究院院外基金;CRAAMD资助

摘　　要：用２．２米掠入射真空紫外单色仪和束箔技术，在原子能院ＨＩ－１３串列加速器上测量了１１０ＭｅＶ和８０ＭｅＶＣｕ的光谱。谱仪置于与束流９０°方向，光栅为６００槽／ｍｍ，入射狭缝距束流中心线为４．５ｍｍ，碳膜厚为１８μｇ／ｃｍ２，束流在８００－１２００ｎＡ...

关 键 词：束箔光谱 入射狭缝 束箔技术 串列加速器 真空紫外 中国工程物理研究院 近代物理研究所 光谱测量 国家自然科学基金 中国科学院 

分 类 号：O562.3[理学—原子与分子物理]