X射线荧光探头中几个主要部件相对位置的探讨  

An Inquiry into Comfiguration of Main Components inside X-ray Fluorescence Probe

作　　者：许锦康[1] 

机构地区：[1]昆明冶金研究院

出　　处：《云南冶金》1998年第S1期91-94,共4页Yunnan Metallurgy

摘　　要：简述了X射线荧光分析法进行元素分析的基本原理，着重对产生并接收荧光X射线的XRF探头中几个主要部件的相对位置作了探讨。The principle of elements analyses with X - ray fluorescence instrumentation is briefed. Inside the X- ray fluorescence probe,the configuration of several major components which generate or accept X ray are studied.

关 键 词：X射线荧光分析 荧光X射线 放射源 NaI晶体 滤光片 

分 类 号：TH87[机械工程—仪器科学与技术]