指数分布贝叶斯标准型定时截尾试验方案设计  被引量:4

Design of Bayesian Standard Fixed Duration Test Plans under Exponential Distribution

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作  者:时钟[1] 邝志礼[1] 阳川[1] 

机构地区:[1]工业和信息化部电子第五研究所,广东广州510610

出  处:《电子产品可靠性与环境试验》2009年第2期6-9,共4页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

摘  要:针对寿命分布服从指数分布的产品,研究总结其工程应用中的经典统计标准型定时截尾试验方案的设计特点,论述应用贝叶斯统计理论设计标准型定时截尾试验方案的数学方法。The design features of classical standard fixed duration test plans in actual engineering for products with exponential distribution were summarized. The mathematical method for designing a standard fixed duration test plan with Bayesian theory was discussed.

关 键 词:指数分布 贝叶斯理论 定时截尾 试验方案 

分 类 号:O212.8[理学—概率论与数理统计]

 

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