赛默飞世尔科技在PITTCON首次亮相新的LC-MS/MS  

出　　处：《中国仪器仪表》2009年第4期23-23,共1页China Instrumentation

摘　　要：赛默飞世尔科技公司宣布Therrno Scientific TSQ Vantage在2009 PITTCON上首次亮相。新的LC-MS／MS系统相比目前市场上任何三重四极质谱仪的灵敏度提高了10倍还要多，而且是在噪音没有提高的前提下。新的技术突破使得TSQ Vantage在小分子、生物分子和肽的定量分析中具有无可比拟的信噪比性能，并提供了更好的重现性和精确性。在2009年3月9日芝加哥进行的2009 PITTCON展会上，

关 键 词：PITTCON LC-MS/MS 科技 VANTAGE LC-MS/MS 四极质谱仪 技术突破 定量分析 

分 类 号：TH7[机械工程—仪器科学与技术] O657.63[机械工程—精密仪器及机械]