通用智能测试系统与接口  

作　　者：江明[1] 

机构地区：[1]江汉大学机电工程系,430010

出　　处：《江汉大学学报》1998年第3期90-94,共5页Journal of Jianghan University

摘　　要：介绍了通用智能测试系统的基本原理，给出了实现该系统的基本电路，提出了该系统与微机进行通讯的设计思路及方案．

关 键 词：数据采集 串行通讯 数据处理 智能测试系统 接口 

分 类 号：TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置] TP273[自动化与计算机技术—控制科学与工程]