掺杂少量W对SiO_2介孔分子筛结构的影响  

Effect of Doping Tungsten on Structure of Mesoporous Silicon Dioxide

作　　者：苏赵辉[1] 李洁[1] 

机构地区：[1]中南大学化学化工学院,长沙410083

出　　处：《有色金属》2009年第2期40-42,共3页Nonferrous Metals

基　　金：教育部"新世纪优秀人才资助计划"项目(NCET.05.0691)

摘　　要：以正硅酸乙酯(TEOS)为硅源、以钨酸钠(Na2WO4.2H2O)为钨源、以非离子表面活性剂三嵌段共聚物P123为模板剂,采用水热法一步合成少量W掺杂的二氧化硅介孔分子筛,并通过XRD,HRTEM,FT-IR等表征手段详细考察了所合成的介孔分子筛的结构以及钨物种在分子筛材料中的存在状态。结果表明,当WO3的含量小于10%时,介孔分子筛仍保持优良的孔道结构,且材料中的钨物种是高度分散的。Mesoporous silicon dioxide materials doped with tungsten are synthesized by hydrothermal technique, employing nonionic surfactant block copolyrner （P123） as template, using ethyl silicate（TEOS） as inorganic precursor and sodium tungstate（Na2WO4·2H2O） as the origin of tungsten. Several methods such as XRD, HRTEM, FT-IR are employed to characterize the structures of the mesoporous materials, and the existent shape of tungsten in the mesoporous materials. The results show that the excellent porous structure is remained in the mesoporous silicon dioxide materials, and the tungsten species are highly dispersed when the amount of WO3 is less than 10%.

关 键 词：无机非金属材料 介孔分子筛 三氧化钨 二氧化硅 掺杂 模板剂 表面活性剂 

分 类 号：O613.72[理学—无机化学] TQ424.25[理学—化学]