事件相关电位P50和P300作为精神分裂症内表型的研究进展  

作　　者：甄文凤[1] 王红星[2] 马辛[1] 

机构地区：[1]首都医科大学附属北京安定医院,100088 [2]首都医科大学宣武医院

出　　处：《中华精神科杂志》2009年第2期119-121,共3页Chinese Journal of Psychiatry

基　　金：基金项目：首都医学发展科研基金资助项目（2005-536）;北京市科技新星计划资助项目（2006A35）

摘　　要：精神分裂症的发病机制复杂，其分子遗传学的研究迄今尚未得出一致的结果。内表型是近年研究精神疾病遗传学的一种新策略。通过内表型，有助于从高度异质性的精神分裂症患者中，筛选出具有某种表型的群体，并找出决定该表型的关键基因或易感性基因位点。事件相关电位（event—relatedpotential，ERP）技术是研究精神疾病内表型的有价值途径，ERP指标被认为是反映精神分裂症的一种潜在内表型。P50和P300是常见的ERP指标，本文从内表型角度综述其在精神分裂症研究中的应用价值。

关 键 词：精神分裂症患者 事件相关电位 内表型 P300 基因位点 分子遗传学 疾病遗传学 发病机制 

分 类 号：R686[医药卫生—骨科学]