标准薄盘径移速度对谱线轮廓影响研究  

The effects of radial velocity on line profiles from standard thin disk

作　　者：潘彩娟[1,2] 

机构地区：[1]百色学院物理与电信工程系,广西百色533000 [2]中国科学技术大学天体物理中心,安徽合肥230051

出　　处：《云南大学学报（自然科学版）》2009年第3期261-266,273,共7页Journal of Yunnan University(Natural Sciences Edition)

基　　金：国家自然科学基金资助项目(10573016)

摘　　要：在考虑标准薄盘流体元径移速度的情况下,推导出Kerr黑洞附近吸积盘的观测谱线流量的一般计算式.利用光子追踪法,计算不同参数条件下薄吸积盘的谱线轮廓,通过比较考虑径移速度vr和忽略径移速度vr=0两种情况下吸积盘的谱线轮廓,得出在多数情况下,径移速度对谱线流量的影响是不可忽略的.The general formula of line profiles has been derived based on the radial velocity the standard thin disk fluid around a rotating black hole. The line profiles were calculated under different parameters, using ray tracing methods. Comparing with the line profiles with and without radial velocity, in most cases, the effects of radial velocity on line profiles can not be neglected.

关 键 词：标准薄盘 径移速度 KERR度规 谱线流量 

分 类 号：P145.8[天文地球—天体物理]