第六届SPIE多光谱图像处理与模式识别国际学术会议将于10月30日至11月1日在宜昌举行  

出　　处：《红外》2009年第5期F0004-F0004,共1页Infrared

摘　　要：多光谱图像处理与模式识别国际学术会议是由国际光学工程学会（SPIE）与中国联合组织的国际学术会议，至今为止，已在我国成功召开五届（1998．武汉；2001．武汉；2003．北京；2005．武汉；2007．武汉），在学术界有一定的影响。继第五届会议在武汉取得圆满成功之后，第六届SPIE多光谱图像处理与模式识别国际学术会议计划于2009年10月30日至11月1日在宜昌三峡大坝酒店举行。本届会议由武汉华中科技大学主办。

关 键 词：国际学术会议 模式识别 图像处理 SPIE 多光谱 宜昌 国际光学工程学会 华中科技大学 

分 类 号：O3-27[理学—力学] TP391.4[自动化与计算机技术—计算机应用技术]