X—荧火分析仪晶体表面处理实践  

作　　者：董丽敏[1] 刘安春[1] 陈改明[1] 刘京训 

机构地区：[1]安阳钢铁公司

出　　处：《冶金标准化与质量》1998年第5期20-21,44,共3页Metallurgical Standardization & Quality

摘　　要：引进日本的ＶＸＱ—１５０（Ａ）Ｘ荧光分析仪主要承担公司生铁、炉渣及原材料分析。使用十年来，在公司生铁及原材料分析方面起到了应有的作用。随着使用时间的延长，发现部分元素强度明显下降，经多方面分析与试验，发现造成该现象的主要原因是分析通道里的分光晶体表面...

关 键 词：X荧光分析仪 晶体 表面处理 

分 类 号：TG115.339[金属学及工艺—物理冶金]