智能数字芯片检测仪的研制  

作　　者：关善亮[1] 孔银鸽[1] 苗家旺[1] 张启升[1] 

机构地区：[1]中国地质大学地下信息探测技术与仪器教育部重点实验室,100083

出　　处：《中国科技信息》2009年第11期110-110,117,共2页China Science and Technology Information

基　　金：中国地质大学(北京)大学生创新性实验计划专项基金支持

摘　　要：为解决在科研和商业活动中需对芯片是否损坏进行检测的问题,设计由上位PC机软件和检测端组成的智能数字芯片检测仪。检测端由单片机AT89S52数据处理模块、复杂可编程逻辑器件(CPLD)EPM3256待测芯片控制模块、双通道24位模数转换芯片(A/D)CS5550采样电路、电可擦写可编程只读存储器(EEPROM)AT24C08存储电路、LED显示电路和过流保护电路组成。检测端具备与上位PC机串口通信功能,通过上位机软件用户可以自行更新、编辑待测芯片库,检测端可以脱离上位机,同时对两个48管脚以内双列直插式(DIP)封装的数字芯片进行检测。

关 键 词：芯片检测仪 单片机 复杂可编程逻辑器件 串口通信 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]