检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:李靖[1,2]
机构地区:[1]湖南工程学院,湖南湘潭411101 [2]西安交通大学,陕西西安710049
出 处:《低压电器》2009年第9期1-5,共5页Low Voltage Apparatus
基 金:湖南省自然科学基金项目资助(05JJ40068);湖南省教育厅项目资助(04D02)
摘 要:利用电光分析天平、扫描电镜与能谱仪,测量并分析了CAgCdO与AgSnO2In2O3触头材料在交流50/400 Hz和小电流通断试验的重量、表面形貌及组分的变化,探讨了两种频率下AgMeO触头侵蚀机理。结论指出,在设计时可适当减少中频开关电器体积。By electronic analytical balance,SEM and EDS, the changes of CAgCdO and AgSnO2 In2O3 contacts material's weight ,surface profile and constituent during the test process of AC 50 Hz/400 Hz in small current were observed and analyzed. The mechanism of AgMeO contact erosion under the conditions of two frequency was discussed. The results showe that the size of medium frequency switching device can be reduced.
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.70