LC4716可编程驱动器的测试分析  

Test and Analyse for the LC4716 Programmable Drive

作　　者：姚秀华[1] 母继荣[1] 李桂华[1] 

机构地区：[1]电子工业部东北微电子研究所,沈阳110032

出　　处：《微处理机》1998年第2期7-9,共3页Microprocessors

摘　　要：随着电路集成度的增大和复杂程度的增加，在电路研制过程中的故障定位就显得越来越重要。本文详细介绍了可编程驱动器电路的测试分析。With the development of integrate circuits, the failure location is becoming necessary and important in the course of circuits research and manufature.This paper introduces the test and analyse for the programmable drive.

关 键 词：故障定位 测试 可编程驱动器 LC4716 数模电路 

分 类 号：TN792.07[电子电信—电路与系统]