用射线追踪法设计和优化双柱面紧缩场反射面锯齿  

Design and Optimum the Serrated Edge of Dual Cylindrical CATR Using Ray-tracing Method

作　　者：洪家才[1] 

机构地区：[1]指挥技术学院测量控制系

出　　处：《指挥技术学院学报》1998年第1期8-14,共7页Journal of Institute of Command and Technology

摘　　要：利用几何绕射理论的射线追踪方法可以快速、直观的分析紧缩场反射面边缘锯齿对紧缩场口面场的影响，达到快速设计和优化锯齿的目的。文中给出了射线追踪方法。场分布与实测值基本吻合。Using ray-tracing of geometric theory of diffraction. it is fast and direct to analysing the effect of serrated edge to CATR aperture field. and the goal of fast design and optimum serrated edge is reached. The ray-tracing method is given out, and the result is OK comparing with measurement data.

关 键 词：几何绕射理论 射线追踪 紧缩场 几何光学 天线 

分 类 号：O435[机械工程—光学工程] TN820[理学—光学]