极低副瓣天线远场测量的新方法  

A New Far Field Measurement Method forUltra-Low Sidelobe Antenna

作　　者：邵江达[1] 李浚沛[1] 

机构地区：[1]南京电子技术研究所天线与微波技术国家重点实验室

出　　处：《现代雷达》1998年第3期73-78,99,共7页Modern Radar

摘　　要：测试极低副瓣天线时，要求测量距离远远大于２Ｌ２／λ，其中Ｌ为天线口径尺度，λ为工作波长。为了解决现有远场测试场地测量极低副瓣天线所遇到的测试距离不够的问题，本文提出了一种远场测量修正方法。对在费涅耳区测量的天线波瓣图进行修正，可以获得被测天线的远场波瓣图。对极低副瓣线阵天线的计算机模拟计算表明，该方法是有效的，可以获得满意的校正效果。In order to measure the Ultra-Low sidelobe antenna pattern, a far field range with its measurement distance much longer than 2L2/λ is necessary. A new far field measurement correction method of Ultra-Low sidelobe antenna is presented in this paper. By correction the Fresnel field pattern of antenna under test, its far field pattern can be obtained. Computer simulation result has shown that corrective effect is very satisfactory.

关 键 词：低副瓣天线 远场测量 校正 天线 

分 类 号：TN821[电子电信—信息与通信工程]