工业镀层及涂层厚度分析——同位素X射线荧光光谱法  

Determination of Plating or Coating Thickness by Isotopic X_Ray Fluorescence Spectrometry

作　　者：陈永君[1] 邓赛文[1] 马天芳[1] 任家富 

机构地区：[1]国家地质实验测试中心 [2]重庆地质仪器厂

出　　处：《分析测试学报》1998年第3期61-63,共3页Journal of Instrumental Analysis

摘　　要：采用自行研制的同位素Ｘ射线荧光分析仪，测定工业镀层和汽车涂层厚度，分析精度（ＲＳＤ）分别达２０％和３６％，该法具有快速、简便、无损等优点。Isotopic X_ray fluorescence spectrometer developed by the authors is used to determine the thickness of technical plating or automobile coating.Determination precisions are 20%and 36%,respectively.The method has the advantages of rapidity,simplicity and nondestructive analysis.

关 键 词：同位素 X射线荧光光谱 镀层 涂层 厚度 分析 

分 类 号：TH744.16[机械工程—光学工程] TH744.15[机械工程—仪器科学与技术]