一种全场三维共焦检测的新方法  

作　　者：田维坚[1] 丁志华[1] 郭履容[2] 陈波[2] 庞霖 

机构地区：[1]浙江大学现代光学仪器国家重点实验室 [2]四川联合大学信息光学研究中心

出　　处：《光学学报》1998年第6期757-761,共5页Acta Optica Sinica

基　　金：中国博士后科学基金;浙江大学现代光学仪器国家重点实验室开放项目

摘　　要：提出了一种利用微光学阵列合成器件实现全场三维面形并行检测、记录的共焦方法。此方法的关键是，在共焦系统中引入了一微光学阵列合成器件来产生一点光源列阵，实现了对同一剖面同时并行检测，并首次采用了ＣＣＤ面阵像元取代小孔光阑直接截取三维信息光强。本文讨论了该方法的三维信息检测原理、响应关系，给出了初步的实验结果和三维重构图。

关 键 词：全场三维面形 并行共焦检测 微光学阵列 CCD 

分 类 号：TH740.6[机械工程—光学工程]