可靠性综合评估中的一个广义线性随机效应模型  

作　　者：赵慧[1] 于丹[2] 

机构地区：[1]华中师范大学数学与统计学学院,武汉430079 [2]中国科学院数学与系统科学研究院,北京100087

出　　处：《中国科学（A辑）》2009年第6期741-748,共8页Science in China(Series A)

基　　金：国家自然科学基金(批准号:10571070);中国博士后科学基金(批准号:20060400514)资助项目

摘　　要：本文提出了一个广义线性随机效应模型,通过综合来自不同储存环境下的同源产品的试验数据信息来评估一类高可靠小样本产品的储存寿命,并给出了相应的算法.模拟结果显示了本文提出的模型及方法的合理性和有效性.

关 键 词：成败型寿命试验 Ⅰ型区间删失 WEIBULL分布 随机效应 余双对数连接函数 

分 类 号：O213.2[理学—概率论与数理统计]