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作 者:赵玉文[1] 李仲明[1] 何少琪[1] 王文静[1] 寥显伯[2] 盛殊然[2] 邓礼生[2] 潘广勤[2]
机构地区:[1]北京市太阳能研究所 [2]中国科学院半导体研究所国家表面物理实验室
出 处:《太阳能学报》1998年第2期152-155,共4页Acta Energiae Solaris Sinica
摘 要:报道了快速热化学气相沉积(RTCVD)工艺制备多晶硅(poly-Si)薄膜及电池的实验和结果。采用SiH2Cl2作为原料气体,衬底温度为1030℃时,薄膜的生长速率为10nm/s。发现薄膜的平均晶粒度及载流子迁移率与衬底温度和材料有关。用该薄膜在未抛光重掺杂磷的硅衬底上制备1cm2的p+n结样品电池,无减反射涂层,其转换效率为4.54%(AM1.5,100mW/cm2,25℃)。Polycrystalline silicon(poly Si)films(10—20μm)were grown by a rapid thermal chemical vapor deposition technique from SiH 2Cl 2 with a growth rate up to 10nm/s at the substrate temperature(Ts)of 1030℃.The average grain size and carrier mobility of the films were found to be dependent on T s and the substrate materials.By using this kind of films,solar cells have been prepared on heavily phosphorus doped silicon substrate unpolished with an energy conversion efficiency of 4.54% (AM1.5,100mW/cm 2,25℃).
分 类 号:TM914.42[电气工程—电力电子与电力传动]
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