光电成像系统的像面覆盖方法分析  

Analysis of Focal Plane Coverage for E-O Imaging Systems

作　　者：耿文豹[1,2] 翟林培[1] 丁亚林[1] 

机构地区：[1]中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,长春130033 [2]中国科学院研究生院,北京100039

出　　处：《半导体光电》2009年第3期448-450,454,共4页Semiconductor Optoelectronics

基　　金：国家"863"计划项目(2007AA701203)

摘　　要：为了实现延时积分电荷耦合器件(TDI-CCD)在光电成像系统中的有效应用,在对现有光电成像系统像面覆盖方法分析的基础上,基于TDI-CCD的时间延时积分功能,提出了一种新的像面覆盖方法,并从理论上对新的像面覆盖方法进行了分析。通过与现有方法的对比,分析了新方法的特点,说明了该方法的可用性和实用性。In order to achieve effective applications of electro-optic coupled apparatus TDI-CCD in the E-O imaging systems, based on the analyse of the existing focal plane coverage methods for electro-optic imaging systems, a new focal plane coverage method was proposed by making use of the time delay integration of TDI-CCD. Analysis about the usability and practicability of this new method was carried out theoretically by comparison with existing methods.

关 键 词：光电成像 像面覆盖 延时积分 TDI—CCD 

分 类 号：TN386.5[电子电信—物理电子学]