氟石中二氧化硅测定方法的研究  

Study about determination method of Silica in fluorspar

作　　者：钱菁[1] 杨瑞霞[1] 李超[1] 

机构地区：[1]济南钢铁集团总公司技术监督处,山东济南250101

出　　处：《冶金标准化与质量》2009年第3期41-43,共3页Metallurgical Standardization & Quality

摘　　要：通过高温熔融试样利用 X 射线荧光测定的方法,分析氟石中二氧化硅含量。从试验条件、仪器参数等方面进行了研究,建立了氟石中二氧化硅的工作曲线。经过试验,取得满意效果,The paper determined the silicon dioxide in fluorspar with X-ray fluorescence by melting the sample in high temperature, built the silicon dioxide working curve in fluorspar by studying from the test condition and choice of instrument parameters. A satisfied result was gotten from the test.

关 键 词：X射线荧光 氟石 二氧化硅 

分 类 号：TF041[冶金工程—冶金物理化学]