MIM 与 MIS 隧道结的结构特点及其发光效应  

Structure and Light Emission Characteristics of MIM and MIS Tunnel Junctions

作　　者：王茂祥[1] 孙承休[1] 俞建华[1] 刘柯林[1] 吴宗汉[2] 

机构地区：[1]东南大学电子工程系 [2]东南大学物理系

出　　处：《东南大学学报（自然科学版）》1998年第4期29-32,共4页Journal of Southeast University：Natural Science Edition

基　　金：国家自然科学基金;集成光电子学国家联合重点实验室资助

摘　　要：对ＭＩＭ（ＭｅｔａｌＩｎｓｕｌａｔｏｒＭｅｔａｌ）及ＭＩＳ（ＭｅｔａｌＩｎｓｕｌａｔｏｒＳｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ）隧道结的结构特点作了简单介绍，着重分析了其发光效应及发光光谱特性，并由此对隧道结的发光机理进行了讨论．The structure and fabrication technology of MIM and MIS tunnel junctions are introduced simply. The light emitting characteristics and light spectra of the junctions are analyzed particularly. The light emitting mechanism of the junctions is also discussed.

关 键 词：MIS隧道结 结构 薄膜 MIM隧道结 发光效应 

分 类 号：O484.41[理学—固体物理]